) G# r8 q- n8 A$ S0 l
   　在現場進行(xing)的光纖鏈路驗收測(ce)試大家(jia)都習慣使用“衰減值(zhi)”或者“損耗”來(lai)判斷被測(ce)鏈路的安(an)裝質量，多(duo)數情況(kuang)下這是非常(chang)有效(xiao)的方法(fa)。在ISO11801，TIA568B和GB50312等常用標準中都傾向于使用這種被(bei)稱作“一類測試”(即Tier1)的方法(fa)：特點是：測試參數包含(han)“損耗(hao)和長度”兩個指(zhi)標(biao)，并對測試結果進行“通過/失敗(bai)”的(de)判斷(duan)。

     一類(lei)測試只關(guan)心(xin)光纖鏈路的(de)總衰減(jian)值是否(fou)符合(he)要求(qiu)，并不關(guan)心(xin)鏈路中的(de)可能影(ying)響(xiang)誤碼率的(de)連接點(連接器，熔接點，跳線等)的(de)(de)質量，所以油瓶的(de)(de)對象主要是低速光纖(xian)布線鏈(lian)路(lu)(千兆及以下)。一類測試(Tier1)常(chang)常(chang)分為“能(neng)用型測試”和“應用型測(ce)試”。

　　通(tong)用型測試關注纖本身的安裝質量，通(tong)常(chang)不對光纖的長(chang)度作出規定：而應(ying)用型測試則更(geng)關注當前選擇(ze)的某項應(ying)用是否能被光纖鏈(lian)路(lu)所支持，通(tong)常(chang)都有(you)光纖鏈(lian)路(lu)長(chang)度的限制。部分生產(chan)廠家還(huan)提(ti)供高于標(biao)準(zhun)的“廠家專用型測試(shi)”。通(tong)用型測試標準和應用型測試標準它們之間(jian)時常會表現(xian)出“不(bu)兼(jian)容”的(de)情況。

2 R3 c; ^# q# ]

　　例如(ru)：一條700m長的多模光纖鏈路，測試的衰減值是1.2dbm,符合(he)通用(yong)型(xing)測試(shi)標準的(de)要求，但(dan)這條鏈路在多數情況下是不能用(yong)來運行1000Base-SX這(zhe)種應用(yong)的(de)，原因(yin)只是因(yin)為超和節(超(chao)長(chang)導致“色散(san)”累積超標)。

                                             編輯(ji)：余匯(hui)川(chuan)